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X荧光硫含量测定仪测定原理和特点
X荧光硫含量测定仪测定原理和特点
更新时间:2016-12-27 点击次数:2395
X荧光硫含量测定仪
是先进的硫元素同步测定仪,广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。
X荧光硫含量测定仪
采用紫外荧光法测定原理。样品被引入到高温裂解炉后,样品发生裂解氧化反应。在1000℃左右的高温下,样品被*气化并发生氧化裂解,其中的硫化物定量地转化为二氧化硫。反应气由载气携带,经过膜式干燥器脱去其中的水份,进入反应室。二氧化硫受到特定波长的紫外线照射,吸收这种射线使一些电子转向高能轨道。一旦电子退回到它们的原轨道时,过量的能量就以光的形式释放出来,并用光电倍增管按特定波长检测接收,发射的荧光对于硫来讲*是特定的并且与原样品中硫的含量成正比。再经微电流放大器放大、计算机数据处理,即可转换为与光强度成正比的电信号,通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。
X荧光硫含量测定仪
6个特点
1.灵敏度高:采用先进的分析方法,关键部件采用器件,使得整机性能有了可靠的保证。
2.重复性好:工作曲线一经标定,可供长期使用,减少因不同操作人员标定习惯不同带来的偶然性误差。
3.安全环保:*不使用湿化学法所需要的各种化学试剂,大大减轻了操作人员的工作量。工作人员不需接触化学试剂,整个试验过程不产生毒害性物质。
4.操作简便:基于Windows的中文操作界面,使操作更为方便、快捷。由计算机控制所有的参数设置、条件选择、数据采集、处理、贮存及打印。
5.成套配置:
主机、温控系统、计算机、打印机、自动液体进样器;
6.其它可选件:
固体进样器、气体进样器。
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